Самотестирование на основе колебаний OBIST

 

 

 

Самотестирование радиооборудования на основе колебаний OBIST

 

 

Упоминания заслуживает достаточно простая и оригинальная стратегия самотестирования на основе колебаний OBIST (Oscillation-based BIST), потому что она концептуально проста и не требует для реализации обширных модификаций тестируемого устройства CUT (Circuit Under Test). Эта стратегия, предложенная и развитая в работах [1-4], которая является дефект-ориентированной (defect-oriented technique) техникой, может быть использована и для режима тестирования радиооборудования онлайн (online testing) или в автономном режиме (offline testing).

 

 

 

При OBIST-тестировании комплексная аналоговая схема (тракт обработки сигнала) разбивается на отдельные функциональные блоки (ФБ), такие как, операционные усилители, компараторы, фильтры, ФАП, и так далее, или комбинации этих блоков. Затем каждый функциональный блок превращается в генератор, путем добавления при производстве в схему соответствующих цепей, называемых обычно тестирующими подсхемами, для достижения в режиме тестирования ФБ устойчивых колебаний. При тестировании оборудования происходит оценка параметров генерируемого колебания. Дефектные блоки обнаруживаются по отклонению параметров его колебаний относительно параметров эталонных колебаний при безотказных условиях.

 

 

 

 

Литература по OBIST

[1] K. Arabi and B. Kaminska. Oscillation-test strategy for analog and mixed-signal integrated circuits. in Proc. VLSI Test Symp. 1996, pp. 476–482.

[2] K. Arabi and B. Kaminska. Oscillation built-in self test (OBIST) scheme for functional and structural testing of analog and mixed-signal integrated circuits. in Proc. Int. Test Conf. 1997, pp. 786–795.

[3] K. Arabi and B. Kaminska. Oscillation-test methodology for low-cost testing of active analog filters. IEEE Trans. Instrum.Meas. vol. 48, no. 4, pp. 798–806, Aug. 1999.

[4] K. Arabi. Mixed-signal BIST: Fact or fiction. in Proc. Int. Test Conf. 2002, p. 1200.

[5] Angela Marie Hodge. ANALOG SYSTEM-ON-A-CHIP WITH APPLICATION TO BIOSENSORS. Dissertation submitted to the Faculty of the Graduate School of the University of Maryland, College Park, in partial fulfillment of the requirements for the degree of Doctor of Philosophy. 2005.

[6] M. Soma and V. Kolarik. A design-for-test technique for switchedcapacitor filters. in Proc. VLSI Test Symp. 1994, pp. 42–47.

[7] D. Vazquez, A. Rueda, and J. L. Huertas. A new strategy for testing analog filters. in Proc. VLSI Test Symp. 1994, pp. 36–41.

[8] K. D. Wagner and T. W. Williams. Design for testability of mixed signal integrated circuits. in Proc. Int. Test Conf. 1988, pp. 823–828.

[9] C.-P. Wang and C.-L. Wey. Test generation of analog switched-current circuit. in Proc. Asian Test Symp. 1996, pp. 376–381.

[10] P. M. Dias, J. E. Franca, and N. Paulino. Oscillation test methodology for a digitally-programmable switched-current biquad. in Proc. Int. Mixed Signal Test. Workshop, 1996, pp. 221–226.

[11] B. Kaminska, K. Arabi, I. Bell, P. Goteti, J. L. Huertas, B. Kim, A. Rueda, M. Soma. Analog and mixed-signal benchmark circuits — First release. in Proc. Int. Test Conf. 1997, pp. 183–190.

[13] A. Chatterjee and N. Nagi. Design for testability and built-in self-test of mixed-signal circuits: A tutorial. in Proc. Int. Conf. VLSI Des. 1997, pp. 388–392.

[14] L. S. Milor. A tutorial introduction to research on analog and mixedsignal circuit testing. IEEE Trans. Circuits Syst. II, vol. 45, no. 10, pp. 1389–1407, Oct. 1998.

[15] J. Velasco-Medina and M. Nicolaidis. Current-based testing for analog and mixed-signal circuits. in Proc. Int. Conf. Comput. Des. 1998, pp. 576–581.

[16] U. Cam and H. Kuntman. A new CCII-based sinusoidal oscillator providing fully independent control of oscillation condition and frequency. Microelectron. J. vol. 29, no. 11, pp. 913–919, Nov. 1998.

[17] S. R. Das. Self-testing of embedded cores-based systems with built-in hardware. Proc. Inst. Electr. Eng.-Cir. Dev. Syst. vol. 152, no. 5, pp. 539–546, Oct. 2005.

[18] G. Huertas, D. Vazquez, A. Rueda, and J. L. Huertas. Effective oscillation-based test for application to a DTMF filter bank. in Proc. Int. Test Conf. 1999, pp. 549–555.

[19] M. W.-T. Wong. On the issues of oscillation test methodology. IEEE Trans. Instrum. Meas. vol. 49, no. 2, pp. 240–245, Apr. 2000.

[20] J. Roh and J. A. Abraham. A comprehensive TDM comparator scheme for effective analysis of oscillation-based test. in Proc. VLSI Test Symp. 2000, pp. 143–148.

[21] M. S. Zarnik, F. Novak, and S. Macek. Design of oscillation-based test structures for active RC filters. Proc. Inst. Electr. Eng.—Cir. Dev. Syst. vol. 147, no. 5, pp. 297–302, Oct. 2000.

[22] A. M. Brosa and J. Figueras. Digital signature proposal for mixed-signal circuits. in Proc. Int. Test Conf. 2000, pp. 1041–1050.

[23] J. Font, J. Ginard, E. Isern, M. Roca, J. Segura, and E. Garcia. Oscillation-test technique for CMOS operational amplifiers by monitoring supply current. Analog Integr. Circuits Signal Process. vol. 33, no. 2, pp. 213–224, Nov. 2002.

[24] G. Huertas, D. Vazquez, E. J. Peralias, A. Rueda, and J. L. Huertas. Testing mixed-signal cores: A practical oscillation-based test in an analog macrocell. IEEE Des. Test Comput. vol. 19, no. 6, pp. 73–82, Nov./Dec. 2002.

[25] S. R. Das. Getting errors to catch themselves—Self-testing of VLSI circuits with built-in hardware. IEEE Trans. Instrum. Meas. vol. 54, no. 3, pp. 941–955, Jun. 2005.

[26] J. Roh and J. A. Abraham. A comprehensive signature analysis scheme for oscillation-test. IEEE Trans. Comput.-Aided Design, vol. 22, no. 10, pp. 1409–1423, Oct. 2003.

[27] E. B. Eichelberger and T. W. Williams. A logic design structure for LSI testing. in Proc. Des. Autom. Conf. 1977, pp. 462–468.

[28] B. Konemann, J. Mucha, and G. Zwiehoff. Built-in logic block observation techniques. in Proc. Int. Test Conf. 1979, pp. 37–41.

[29] T. W. Williams and K. P. Parker. Testing logic networks and design for testability. Computer, vol. 21, no. 10, pp. 9–21, Oct. 1979.

[30] E. J. McCluskey. Built-in self-test techniques. IEEE Des. Test Comput. vol. 2, no. 2, pp. 21–28, Apr. 1985.

[31] S. Mourad and Y. Zorian, Principles of Testing Electronic Systems. New York: Wiley, 2000.

[32] S. R. Das, C. V. Ramamoorthy, M. H. Assaf, E. M. Petriu, andW.-B. Jone. Fault tolerance in systems design in VLSI using data compression under constraints of failure probabilities. IEEE Trans. Instrum. Meas. vol. 50, no. 6, pp. 1725–1747, Dec. 2001.

Еще инфо:  Тестирование (Testing). Интернет-ресурсы